SMLS을 이용한 평균입경분석

Introduction 나노와 마이크론 크기의 입자를 갖는 Suspension, Emulsion은 다양한 산업분야에서 널리 사용되고 있지만 실제 분산상태는 여전히 미지(未知)로 남아 있고, 원래의 고농도 상태에서의 평가도 쉽지 않다. 그러나 고농도 영역에서는 Aggregation이나 Agglomeration이 존재할 수 있다는 것은 이미 잘 알려진 사실이다. 정적다중광산란법은 실제 분산상태를 변형시킬 수 있는 희석이나 외력이 없이 평균 입경을 분석할 수 있는 방법으로 잘 알려져 있다. 일반적인 측정법들은 측정원리(Microscopy, Centrifugation, FFF, Sieving, Filtration) 또는 시료의 희석(DLS, PTA, Laser Diffraction) 때문에 입경을 변화시킬 수 있다. 여기서 SMLS Technique으로 평균 입경을 측정하고 그 측정법의 범위를 제안하고자 한다. static Multiple Light Scattering Technology ...

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