디자인을 활용한 칩 테스트

반도체 제조에서 저하된 테스트 핀 검출을 위한 활용 디자인을 활용한 칩 테스트 및 반도체 제조에서의 효율적인 테스트 핀 검출은 현대 기술 발전의 중요한 부분입니다. AI를 활용한 신경망은 미세하고 정밀한 연결을 가능케 하며, 점차 커지는 데이터와 정밀한 기능을 다루기 위해선 새로운 작업에 적응 가능한 설계가 필요합니다. 이에 대비하기 위해 매스는 유기적인 설계와 상호 보안을 강조하며, 지속적인 데이터 축적을 통해 발전해 나가고 있습니다. 또한, 이런 작업을 연결하기 위해 고도화된 프로브가 필요하며, 이를 통해 인공 지능을 가속화할 계획입니다. 수백억에서 수천억 개의 파라미터를 포함하는 모델을 훈련하는 어려움에 대응하기 위해 고성능 컴퓨팅과 시스템 지식의 독특한 조합이 필요합니다. 이러한 노력의 목표는 가장 큰 신경망을 훈련하고, 연결을 위한 방법을 테스트에서 더 나아가 시스템화하는 것입니다. 현대 칩들의 기능성 증가는 더 많은 로직을 테스트해야 한다는 의미이며, 이는 더 많은 패턴,...

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