ATPG, Automatic Test Pattern Generation 소개: 반도체 제조공정에서 발생 할 수 있는 결함을 걸러내는 테스트 벡터 생성 방법론

반도체 제조공정은 완벽하지 않기에 항상 결함이 있는 Chip이 있고, 불량과 양품을 거를 수 있는 기준이 필요합니다. ATPG, Automatic Test Pattern Generation. 한국어로 하면, 자동 테스트 패턴 생성으로 "반도체 입력 값 + 정상 반도체에서 나와야 할 출력 값"을 EDA Tool로 만듭니다. 결함이 있는 Chip이 의료 기기, 항공 우주, 방산, 자율 주행과 같은 중요한 시스템에 사용될 경우 발생할 수 있는 잠재적 결과를 상상해보면 끔찍합니다. 소비자에게 가기 전에 모든 공정 결함 칩들은 확인이 되어야합니다. 그런데, 최신 반도체 칩은 이 테스트라는게 쉽지 않습니다. 1) 나노 공정라는 단위에서 만들어지고, 2) 수십 수백 수천억 개의 Transistor로 이뤄지고, 3) 1ns (unit : nano)보다도 짧은 주파수로 동작하며, 4) 반도체 칩의 크기가 작고, Chip에서 사용 할 수 있는 Input, Output 개수가 많지 않으며, 5) SoC...

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