sample을 TEM으로 보기 위해 필요한 공정 :: Focused ion beam(FIB), Ion milling


sample을 TEM으로 보기 위해 필요한 공정 :: Focused ion beam(FIB), Ion milling

안녕하세요 Jista입니다. 오늘은 sample을 TEM으로 보기 위해서 할 수 있는 공정 두가지를 설명해드리려고 합니다. 1) Focused ion beam(FIB) 가 있고, 2) Ion milling(일종의 atomic layer etching)이 있습니다...

sample을 TEM으로 보기 위해 필요한 공정 :: Focused ion beam(FIB), Ion milling 글에 대한 티스토리 블로그 포스트 내용이 없거나, 요약내용이 적습니다.

아래에 원문링크를 통해 sample을 TEM으로 보기 위해 필요한 공정 :: Focused ion beam(FIB), Ion milling 글에 대한 상세내용을 확인해주시기 바랍니다.


원문링크 : sample을 TEM으로 보기 위해 필요한 공정 :: Focused ion beam(FIB), Ion milling