BIST (Built-in Self Test)란? MBIST, LBIST, PBIST, MONBIST

BIST (Built-in Self Test)는 제품이나 시스템에 내장된 자체 테스트 기능으로, 주로 디지털 시스템이나 반도체 칩에서 사용됩니다. BIST는 제품의 품질과 신뢰성을 높이기 위해 설계 단계에서 구현되며, 제품이 제조되거나 설치된 후에도 주기적으로 자체 진단 및 테스트를 수행할 수 있습니다. BIST의 주요 목적은 결함 탐지, 신속한 테스트, 자기진단, 생산성 향상 등입니다. 결함 탐지 : 제품 내의 결함이나 오류를 식별하는 데 사용됩니다. 이를 통해 제품이 생산되거나 운영 중에 발생하는 결함을 탐지할 수 있습니다. BIST는 주로 디지털 시스템이나 반도체 칩의 주요 기능을 테스트하고, 신호 경로, 레지스터, 메모리 등에서 결함을 탐지합니다. 신속한 테스트 : 제품 내부에서 자체적으로 테스트를 수행하기 때문에 외부 테스트 장비나 특별한 테스트 프로그램이 필요하지 않습니다. 이로 인해 테스트 시간이 단축되고, 별도의 장비 구매나 대여 비용을 절감할 수 있습니다. 자기진단 ...

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