Scan Compression이란?, EDT와 Codec이란? in DFT?

Scan Compression이란?, EDT와 Codec이란? in DFT?

칩 제조공정 중 발생한 결함을 체크하는 방법으로 Design For Testability (DFT)라는 방법론이 있고, DFT의 방법론 중 하나로 SCAN이라는 방법론이 있습니다. SCAN은 높은 TEST Coverage를 출력하지만, Chain length가 길어지고, Chip Testing Time이 긴 편이라는 문제가 있는데요. 이런 점들을 해결해줄 수 있는 SCAN Compression에 대해서 보려고 합니다. (DFT와 SCAN에 대해서 모르시면, 그 부분부터 보셔야 이 글을 이해 하실 수 있습니다.) SCAN Compressor, 이 사진에 pipeline 등 Compressor에 4가지 기능이 추가되어있다... Scan Compression이란? Scan Compression은 SCAN Chain length와 I/O를 Compression(압축)하여 Testing time을 줄이는 DFT 기법입니다. 보통 SCAN은 아래 순서로 구현됩니다. Logic synthesis...

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