DFT: Wrapper Chain이란? INTEST란? EXTEST란? IEEE1500란? 대형 Chip을 위한 SoC 테스트 기법

대표적인 DFT 기법은 SCAN Methodology입니다. DFT와 SCAN에 대해 알고 오셔야 이 글을 이해하실 수 있습니다. IEEE1500이란? - IEEE Std 1500은 임베디드 설계 블록에 대한 독립적인 모듈식 테스트 개발 및 테스트 애플리케이션을 위한 확장 가능한 아키텍처를 정의하고 이러한 코어를 둘러싼 외부 로직을 테스트할 수 있도록 지원합니다. - Module level test는 일반적으로 메모리와 같은 임베디드 블록과 사전 설계된 Integration 불가능한 임베디드 IP Core에 대한 Requirements입니다. - IEEE 1500 아키텍처는 큰 설계를 관리하기 쉬운 크기의 작은 블록으로 분할하고 하나의 시스템 온 칩(SoC) 설계에서 다음 설계로 재사용되는 블록에 대한 테스트 재사용을 용이하게 하는 데에도 사용할 수 있습니다. 참고로 다양한 IP에서 Wrapper를 위해 IEEE 1450.6 (Core Test Language, CTL)로 구현을 해...

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