반도체 설계 결함을 찾는 설계. DFT와 Stuck at fault, Transition Fault ATPG와 Simulation

Design For Test(이하 DFT)는 공정상 결함을 찾기 위한 설계입니다. 반도체에 먼지 한 톨이라도 들어가면 결함이 발생하게 됩니다. 근데 반도체 양산을 하면 억단위 개수로 양산을 하는데, 일일이 촬영하여 Defect를 찾기는 어렵습니다. 그리고 미세공정으로 들어가며 수율이 아주 낮아졌습니다. 양품 비율이 10% 20%정도입니다. 자율주행 자동차, 의료기기, 방산 산업에 쓰이면서 DFT의 중요도는 더 높아지고 있습니다. 삼성 vs TSMC, 명운 건 '파운드리 3nm' 경쟁 삼성 vs TSMC, 명운 건 '파운드리 3nm' 경쟁, 향후 2~3년 고객 확보전 치열 삼성, 신기술 적용 승부수 "수율 완벽 수준까지 올라와" TSMC, 6개월 뒤늦게 양산 수율 안정적, 첫 고객 애플 추정 www.hankyung.com 그래서, Chip을 설계하면서, 공정에서 생긴 결함을 발견 할 수 있는 회로를 Chip 자체에 설계를 합니다. 이런걸 설계하는 엔지니어를 DFT Engineer라고 ...

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